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阻抗測(cè)試儀——航天偉創(chuàng)

簡(jiǎn)要描述:LDJD-C型阻抗測(cè)試儀——航天偉創(chuàng)
LDJD-C型介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀作為新一代通用、多用途、多量程的阻抗測(cè)試儀器,測(cè)試頻率上限達(dá)到160MHz。

  • 產(chǎn)品型號(hào):LDJD-C
  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 更新時(shí)間:2024-06-28
  • 訪  問  量:1316

詳細(xì)介紹

品牌其他品牌價(jià)格區(qū)間2萬(wàn)-5萬(wàn)
應(yīng)用領(lǐng)域化工,石油,能源,建材,綜合

LDJD-C型阻抗測(cè)試儀——航天偉創(chuàng)

LDJD-C介電常數(shù)測(cè)試儀采用了多項(xiàng)*技術(shù):

雙掃描技術(shù)——測(cè)試頻率和調(diào)諧電容的雙掃描、自動(dòng)調(diào)諧搜索功能。

雙測(cè)試要素輸入——測(cè)試頻率及調(diào)諧電容值皆可通過數(shù)字按鍵輸入。

雙數(shù)碼化調(diào)諧——數(shù)碼化頻率調(diào)諧,數(shù)碼化電容調(diào)諧。

  • 適用標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 1409-2006 《測(cè)量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長(zhǎng)在內(nèi))下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法》(等效IEC 602501969

GB/T 1693-2007 《硫化橡膠 介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的測(cè)定方法》

ASTM D150 Standard Test Methods for AC Loss Characteristics and Permittivity (Dielectric Constant) of Solid Electrical Insulation

主要技術(shù)參數(shù)如下:

1. 信號(hào)源頻率覆蓋范圍100kHz160MHz

2. 信號(hào)源頻率精度3×10-5 ±1個(gè)字, 6位有效數(shù)字;信號(hào)頻率覆蓋比110001;采樣精度12BIT(高精度A/D采樣);

3Q值測(cè)量范圍:11000自動(dòng)/手動(dòng)量程;Q值分辨率0.1,4位有效數(shù)字;Q值測(cè)量工作誤差<5%;

4Q值量程分檔:30100、300、1000、自動(dòng)換檔或手動(dòng)換檔;

5.電感測(cè)量范圍:1nH140mH,分辨率0.1nH,自身殘余電感和測(cè)試引線電感的自動(dòng)扣除功能;

6.電容直接測(cè)量范圍:1pF25nF,分辨率0.1pF,準(zhǔn)確度 150pF以下±1pF;150pF以上±1%;                                      

7.主電容調(diào)節(jié)范圍: 17240pF(一體鍍銀成型,精度高);帶步進(jìn)馬達(dá),電容自動(dòng)搜索;                                        

8 材料測(cè)試厚度:0.1mm~10mm

9 合格指示預(yù)置功能范圍:51000;

10LCD顯示參數(shù)F,L,C,Q,Lt,Ct波段等;

11.環(huán)境溫度:0℃+40℃;

12.消耗功率:約25W;電源:220V±22V,50Hz±2.5Hz。

13.(數(shù)顯)介電常數(shù)εr和介質(zhì)損耗因數(shù)tanδ測(cè)試裝置:

數(shù)顯式微桿,平板電容器:

極片尺寸: 38mm

極片間距可調(diào)范圍:≥15mm

夾具插頭間距:25mm±0.01mm

夾具損耗正切值≤4×104 1MHz

測(cè)微桿分辨率:0.001mm

測(cè)試極片:材料測(cè)量直徑Φ38mm厚度可調(diào) ≥ 15mm

*液體杯:測(cè)量極片直徑 Φ38mm; 液體杯內(nèi)徑Φ48mm 、深7mm

14. 電感組LKI-1

分別由0.05μH、0.1μH、0.5μH2.5μH、10μH、50μH100μH、1mH、5mH、10mH十個(gè)電感組成。

北京航天偉創(chuàng)設(shè)備科技有限公司還生產(chǎn)其他型號(hào)介電常數(shù)儀,型號(hào)如下:

 

 LDJD-A型介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀  10kHz~70MHz  

 

 LDJD-B型介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀  10kHz~110MHz

 

 LDJD-C型介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀  100kHz~160MHz

LDJD-C型阻抗測(cè)試儀——航天偉創(chuàng)

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