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160MHz介電常數(shù)儀——航天偉創(chuàng)

簡要描述:160MHz介電常數(shù)儀——航天偉創(chuàng)
LDJD-C型介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀作為新一代通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器,測試頻率上限達(dá)到160MHz。

  • 產(chǎn)品型號:LDJD-C
  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 更新時間:2024-06-28
  • 訪  問  量:1182

詳細(xì)介紹

品牌其他品牌價格區(qū)間2萬-5萬
應(yīng)用領(lǐng)域能源,建材,綜合

 LDJD-C型160MHz介電常數(shù)儀——航天偉創(chuàng)

 

一、主要參數(shù)

1. 信號源頻率覆蓋范圍100kHz160MHz

2. 信號源頻率精度3×10-5 ±1個字, 6位有效數(shù)字;信號頻率覆蓋比110001;采樣精度12BIT(高精度A/D采樣);

3Q值測量范圍:11000自動/手動量程;Q值分辨率0.1,4位有效數(shù)字;Q值測量工作誤差<5%;

4Q值量程分檔:30、100300、1000、自動換檔或手動換檔;

5.電感測量范圍:1nH140mH,分辨率0.1nH,自身殘余電感和測試引線電感的自動扣除功能;

6.電容直接測量范圍:1pF25nF,分辨率0.1pF,準(zhǔn)確度 150pF以下±1pF;150pF以上±1%;                                      

7.主電容調(diào)節(jié)范圍: 17240pF(一體鍍銀成型,精度高);帶步進(jìn)馬達(dá),電容自動搜索;                                        

8 材料測試厚度:0.1mm~10mm;

9 合格指示預(yù)置功能范圍:51000

10LCD顯示參數(shù)F,LC,Q,Lt,Ct波段等;

11.環(huán)境溫度:0℃+40℃;

12.消耗功率:約25W;電源:220V±22V50Hz±2.5Hz。

13.(數(shù)顯)介電常數(shù)εr和介質(zhì)損耗因數(shù)tanδ測試裝置:

數(shù)顯式微桿,平板電容器:

極片尺寸: 38mm

極片間距可調(diào)范圍:≥15mm

夾具插頭間距:25mm±0.01mm

夾具損耗正切值≤4×104 1MHz

測微桿分辨率:0.001mm

測試極片:材料測量直徑Φ38mm厚度可調(diào) ≥ 15mm

*液體杯:測量極片直徑 Φ38mm; 液體杯內(nèi)徑Φ48mm 、深7mm

14. 電感組LKI-1

分別由0.05μH0.1μH、0.5μH、2.5μH10μH、50μH100μH、1mH、5mH10mH十個電感組成。

介質(zhì)損耗測試方法與步驟

1.   主機C0值的計算方式:

a)   選一個適當(dāng)?shù)闹C振電感接到“Lx”的兩端;

b)   將調(diào)諧電容器調(diào)到200P左右,令這個電容是C4,

c)   按下儀器面板的頻率搜索鍵,使測試回路諧振,諧振時Q的讀數(shù)為Q4(注:若頻率搜索未能找到&高Q值諧振點,可以通過頻率旋鈕來微調(diào)頻率來達(dá)到Q值大值的諧振點;

d)   將測試夾具接在“Cx”兩端,放入材料,上下極片夾緊材料后記住夾具顯示值,然后拿出材料,調(diào)回到夾具的顯示數(shù)值,調(diào)節(jié)主調(diào)電容,使測試電路重新諧振,此時可變電容器值為C3,Q值讀數(shù)為Q3。(注:C3數(shù)值肯定比C4要小)

機構(gòu)電容的有效電容為:Cz= C4-C3

分布電容為機構(gòu)電容CZ和電感分布電容CL(參考電感的技術(shù)說明)的和

介質(zhì)損耗系數(shù)/介質(zhì)損耗正切值為

2. 把S916測試夾具裝置上的插頭插入到主機測試回路的“電容”兩個端子上。

3. 在主機電感端子上插上和測試頻率相適應(yīng)的高Q值電感線圈(本公司 主機配套使用的LKI-1電感組能滿足要求),如:1MHz 時電感取100uH,15MHz時電感取1.5uH。

4. 被測樣品要求為圓形,直徑50.4--52mm/38.4--40mm,這是減小因樣品邊緣泄漏和邊緣電場引起的誤差的有效辦法。樣品厚度可在1--5mm之間,樣品太薄或太厚就會使測試精度下降,樣品要盡可能平直。

5. 調(diào)節(jié)S916測試夾具的測微桿,使S916測試夾具的平板電容極片相接為止,按ZERO 清零按鍵,初始值設(shè)置為0。再松開兩片極片,把被測樣品夾入兩片極片之間,調(diào)節(jié)S916測試夾具的測微桿,到的平板電容極片夾住樣品止(注意調(diào)節(jié)時要用S916測試夾具的,以免夾得過緊或過松),這時能讀取的測試裝置液晶顯示屏上的數(shù)值,既是樣品的厚度D2,改變主機上的主調(diào)電容容量,使主機處于諧振點(Q值大值,為了得到準(zhǔn)確的Q值請耐心來回調(diào)節(jié)主調(diào)電容,當(dāng)Q為大值時候可以稍等1分鐘,等Q值穩(wěn)定),然后按一次 主機上的小數(shù)點(tgδ)鍵(請用絕緣材料來按,不要用手來按),在顯示屏上原電感顯示位置上將顯示C0= x x x(C0=Cz+CL電感分布電容)需要手動輸入,記住厚度D2的值,此時顯示數(shù)值為C2和Q2。

6. 取出S916測試夾具中的樣品,(保持S916測試夾具的平板電容極片之間距不變)這時主機又失去諧振(Q值變?。俑淖冎鳈C上的主調(diào)電容容量,使主機重新處于諧振點(Q值大值,為了得到準(zhǔn)確的Q值請耐心來回調(diào)節(jié)主調(diào)電容,當(dāng)Q為大值時候可以稍等1分鐘,等Q值穩(wěn)定))上。

7. 注意:多次測試同一個材料時,要求保持每次材料厚度的讀數(shù)一致。

8. 第二次按下 主機上的小數(shù)點(tgδ)鍵,顯示屏上原C2和Q2顯示變化為C1和Q1,同時顯示介質(zhì)損耗系數(shù)tn =.x x x x x ,即完成測試。

9. 出錯提示,當(dāng)出現(xiàn)tn =  NO 顯示時,說明測試時出現(xiàn)了差錯,發(fā)生了Q1 ≤ Q2和C1 ≤ C2的錯誤情況。

 

附錄

顯示數(shù)據(jù)介紹:

 

C1

材料拿出后,諧振時測得的電容值

C2

材料在夾具中,諧振時測得的電容值

Q1

材料拿出后,諧振時測得的Q值

Q2

材料在夾具中,諧振時測得的Q值

CZ

主機+測試夾具測得的結(jié)構(gòu)電容值

CL

標(biāo)準(zhǔn)電感的分布電容值

C0

結(jié)構(gòu)電容值+電感的分布電容值

D2

材料的厚度

tn

介質(zhì)損耗系數(shù)/介質(zhì)損耗正切值

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

附錄

LKI-1電感組

LKI-1型電感組共包括不同電感量的電感9個,凡儀器在進(jìn)行測試線圈的分布電容量,電容器的電容量,高頻介質(zhì)損耗,高頻電阻和傳輸線特性阻抗等高頻電路和元件的電性能時,必須用電感組作輔助工具。

本電感組有較高Q值,能使儀器測量時得到尖銳諧振點,因而增加其測量的準(zhǔn)確度,各電感的有關(guān)數(shù)據(jù)如下表:

電感No

電感量

準(zhǔn)確度%

Q值≥

分布電容約略值

諧振頻率范圍 MHz

適合介電常數(shù)測試頻率

QBG-3E/3F

AS2853A

1

0.1μH

±0.05μH

180

5pF

20~70

31~103

50MHz

2

0.5μH

±0.05μH

200

5pF

10~37

14.8~46.6

15MHz

3

2.5μH

±5%

200

5pF

4.6~17.4

6.8~21.4

10MHz

4

10μH

±5%

200

6pF

2.3~8.6

3.4~10.55

5MHz

5

50μH

±5%

180

6pF

1~3.75

1.5~4.55

1.5MHz

6

100μH

±5%

200

6pF

0.75~2.64

1.06~3.20

1MHz

7

1mH

±5%

150

8pF

0.23~0.84

0.34~1.02

0.5MHz

8

5mH

±5%

130

8pF

0.1~0.33

0.148~0.39

0.25MHz

9

10mH

±5%

90

8pF

0.072~0.26

0.107~0.32

0.1MHz

10

15nH

±10%

40

0

 

100

100MHz

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

附錄

粘性材料以及超薄材料的測試方法

一  如何測試帶粘性超薄絕緣材料的介電常數(shù)

1 用錫箔紙覆膠在材料的兩面,上下層錫箔紙不能接觸。錫箔紙厚度為DX;

2 超薄材料需要疊加:疊加方式如下

                                   250μ貼合6層后測試;

200μ貼合8層后測試;

175μ貼合9層后測試;

125μ貼合12層后測試;

100μ貼合15層后測試;

75μ貼合20層后測試;

50μ貼合30層后測試。

3 計算公式

  Σ=(D2-2*DX)/D4

4 介質(zhì)損耗系數(shù)測試同理

LDJD-C型160MHz介電常數(shù)儀——航天偉創(chuàng)

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